深圳薄膜測厚儀廠家介紹，測厚儀已廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)，有的已在大規(guī)模生產(chǎn)線上投入應(yīng)用，取得了較好的效果，有的測厚儀正在進(jìn)一步完善中，以發(fā)揮更大的威力功能。

　　根據(jù)測厚儀工作方式的不同，測厚方式一般分為非接觸式測厚和接觸式測厚。根據(jù)厚度測量的原理，測厚儀一般有以下幾種。

　　1.1激光測厚

　　深圳薄膜測厚儀廠家表示，激光測厚是一種典型的非接觸測厚，其原理是利用光電成像技術(shù)。引入激光作為測量工具，大大提高了測量系統(tǒng)的靈敏度和精度，充分利用激光方向性好、亮度高的優(yōu)點，構(gòu)建光學(xué)檢測系統(tǒng)，達(dá)到測量厚度的目的。激光測厚采用差分測量法，利用兩個激光位移傳感器，用準(zhǔn)直激光束上下照射被測板材，由CCD(電荷耦合器件)成像。將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成電信號，電信號經(jīng)相應(yīng)模塊處理后送至CPU。經(jīng)過計算，得到被測物體上表面到激光傳感器的距離和物體下表面到傳感器的距離，最 后通過兩個測量值和兩個傳感器。之間的距離值可以計算出物體的厚度。

　　激光測厚法適用于鋼板、鋼帶等一些非透明材料的在線高速測厚。特別適用于環(huán)境極其惡劣的熱軋鋼生產(chǎn)線的在線測量和軋制厚度控制。

　　1.2射線厚度測量

　　射線厚度測量也是一種非接觸式厚度測量。其原理是利用射線的強(qiáng)穿透力和穿透被測物體后強(qiáng)度的衰減來測量物體的厚度。目前，X射線主要用于工業(yè)生產(chǎn)。測厚儀和伽馬射線測厚儀。X射線測厚原理如圖1所示，當(dāng)一束X射線通過被測物體時，會發(fā)生衰減。衰減的強(qiáng)弱與被測物體的厚度和材質(zhì)有關(guān)。射線源發(fā)出一束強(qiáng)度為I0的射線，通過被測物體的吸收，到達(dá)另一側(cè)傳感器的強(qiáng)度為I。

　　1.3紅外測厚

　　深圳薄膜測厚儀廠家表示，紅外測厚主要用于薄膜生產(chǎn)，也是一種非接觸測厚。對于特定材料的薄膜，其吸收紅外光的能力隨波段的不同而不同。某些波段的紅外光很容易被吸收。，而有些波段的紅外光不易被吸收，因此紅外光譜線上會有波峰和波谷。對各種薄膜進(jìn)行光譜分析，選擇最常見、干擾最少的波段的紅外光作為光源。紅外測厚法一般分為兩種，利用光反射原理的紅外反射法和利用光衰減和吸收原理的紅外透射法。反射式厚度測量已被廣泛應(yīng)用。其次，薄膜的厚度與光能衰減程度呈正相關(guān)。被測薄膜越厚，紅外光的能量衰減越強(qiáng)，被薄膜反射回來的能量越少。通過檢測反射信號強(qiáng)度，根據(jù)反射信號強(qiáng)度與薄膜厚度之間的函數(shù)關(guān)系來確定待測薄膜的厚度。

　　1.4渦流測厚

　　渦流測厚法主要用于鍍層測厚，測量導(dǎo)電物體表面非導(dǎo)電鍍層的厚度。渦流測量的原理是將交流信號加到測量探頭的線圈上，產(chǎn)生電磁場。當(dāng)導(dǎo)體靠近測量探頭時，會產(chǎn)生渦流。測量探頭離導(dǎo)體越近，渦流越大，反射阻抗也越大。反饋阻抗的大小表征了探頭與導(dǎo)電基板之間的距離，即導(dǎo)電材料上非導(dǎo)電涂層的厚度。這個交流激勵信號一定是高頻的，高頻時應(yīng)該是電導(dǎo)率與電感的比值。的影響可以忽略不計，電感分量主要受距離變化的影響。當(dāng)鍍層材料具有一定的電導(dǎo)率時，也可以通過標(biāo)定來測量，但要求基體和鍍層的電導(dǎo)率至少相差3~5倍，渦流測厚儀才能有效檢測有色金屬、油漆、噴塑、橡膠等涂層表面的氧化膜，分辨率可達(dá)0.1μm，誤差1%，測量范圍可達(dá)10mm級。

　　1.5超聲波測厚

　　深圳薄膜測厚儀廠家表示，超聲波測厚是一種典型的接觸測厚。使用時，超聲波探頭需要通過偶聯(lián)劑與被測物體接觸。超聲波測厚有共振式和脈沖式兩種。共振測厚的原理是超聲波探頭向物體發(fā)射入射波。當(dāng)被測物體厚度為半波長的整數(shù)倍時，入射波與反射波同相，在被測工件中產(chǎn)生駐波，引起共振,最 后由共振頻率可以得到待測工件對應(yīng)的厚度,但這種測厚方法操作復(fù)雜,需要不斷改變超聲波的頻率來求得波長.發(fā)生共振。另外，這種方法的測量誤差比較大。